Máy phát điện thử nghiệm xung

Máy phát điện thử nghiệm xung SUG-CCITT-A (Mạch 1, 10/700μS, theo Hình D.1/ Bảng D.1 trong IEC 62368-1:2018 Phụ lục D, Hình K.1/ Tabke K.1 trong IEC 60065:2014 Phụ lục K và Hình N.1/ Bảng N.1 trong IEC 60950-1:2005 Phụ lục N).

Tiêu chuẩn:
IEC 62368-1:2018 “Thiết bị công nghệ âm thanh/video, thông tin và truyền thông – Phần 1: Yêu cầu an toàn”
IEC 60065:2014 “Thiết bị âm thanh, hình ảnh và các thiết bị điện tử tương tự – Yêu cầu an toàn”
IEC 60950-1:2005 “Thiết bị công nghệ thông tin – An toàn – Phần 1: Yêu cầu chung”

Tham chiếu mạch 1 trong Bảng D.1 tạo ra các xung 10/700 μs (thời gian phía trước ảo 10 μs, thời gian ảo 700 μs đến một nửa giá trị) như được quy định trong Khuyến nghị K.44 của ITU-T để mô phỏng nhiễu sét trong MẠNG VIỄN THÔNG.

Máy phát thử nghiệm xung IEC 62368-1 D.1

Hình D.2 - Mạch tạo thử nghiệm giao diện ăng-ten

Hình D.3 - Ví dụ về máy phát xung điện tử

Lưu ý:
1. Nếu cũng cần Mạch 2, 1.2/50μS, theo Hình D.1/ Bảng D.1 trong IEC 62368-1:2018 Phụ lục D (Hoặc Hình K.1/ Tabke K.1 trong IEC 60065:2014 Phụ lục K và Hình N.1/Bảng N.1 trong IEC 60950-1:2005 Phụ lục N), sẽ cần SUG255XX máy phát điện áp xung
2. Nếu cũng cần Mạch 3, theo Hình D.2/ Bảng D.1 trong IEC 62368-1:2018 Phụ lục D (Hoặc Hình N.2/Bảng N.1 trong IEC 60950-1:2005 Phụ lục N), nó sẽ cần thiết SUG255CX máy phát điện áp xung