IEC-61951-1:2006 Các ô và pin thứ cấp chứa chất điện phân kiềm hoặc chất điện phân không phải axit khác – Các ô đơn có thể sạc lại, kín khí di động – Phần 1: Niken-cadmium

Tiêu chuẩn IEC 61951-1:2006 là tiêu chuẩn quốc tế quy định các yêu cầu và phương pháp thử nghiệm cho các pin đơn niken-cadmium sạc lại kín, di động với chất điện phân kiềm hoặc các chất điện phân không axit khác. Tiêu chuẩn này áp dụng cho các loại pin này được sử dụng trong các ứng dụng di động, thiết lập các tiêu chí kỹ thuật thống nhất để hướng dẫn quy trình sản xuất, thử nghiệm và ứng dụng trên toàn cầu.

Tiêu chuẩn này bao gồm các khía cạnh kỹ thuật chính, bao gồm hiệu suất điện, tính toàn vẹn của mối hàn, hiệu suất an toàn và khả năng thích ứng với môi trường, cùng với các quy trình thử nghiệm, quy tắc kiểm tra tương ứng và các yêu cầu về ghi nhãn, đóng gói, vận chuyển và lưu trữ. Việc triển khai tiêu chuẩn này nhằm đảm bảo tính nhất quán về chất lượng sản phẩm, độ tin cậy khi sử dụng và độ an toàn của pin niken-cadmium, đồng thời tạo điều kiện thuận lợi cho thương mại quốc tế và trao đổi kỹ thuật trong ngành liên quan.

LISUN cung cấp các giải pháp kiểm tra đầy đủ cho IEC-61951-1:2006 sau đây, vui lòng xem bảng excel bên dưới:

GDJS-015B Phòng nhiệt độ ẩm | Phòng nhiệt

LS5562 Kiểm tra pin

LVD-100KG Hệ thống máy phát điện rung động

IK07-10VT Máy kiểm tra tác động búa dọc IEC 60068-2-75 IK